Especificaciones geométricas de producto (GPS). Estado superficial: Método de perfil. Calibración de instrumentos de contacto (palpador).

Objeto y campo de aplicación

Esta norma nacional se aplica a la calibración de las características metrológicas de los instrumentos de contacto (palpador) destinados a la medida del estado superficial por el método del perfil como se define la norma ISO 3274. La calibración se efectúa con patrones de medida. El anexo B se aplica a la calibración de las características metrológicas de instrumentos de contacto (palpador) sencillos que no son conformes con la Norma ISO 3274.

Información general

Código del comité
CTN 42 SC 03 
Nombre del comité
Metrología Mecánica 
Sector
Metrología 
ICS
17.040.30  
Correspondencias
ISO 12179:2000  
Organismos
ISO  
Edición
Fecha de aprobación
2019-12-18 
Número de páginas
21 
Estado
Vigente 

Normas de Referencia
ISO 3274, ISO 4287, ISO 5436-1, ISO 10012-1, ISO 12085, INTE/ISO 14253-1, ISO/TS 14253-2:1999/COR 1, Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML. International vocabulary of basic and general terms used in metrology (VIM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML.